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按鍵壽命測(cè)試檢驗(yàn)產(chǎn)品的使用壽命及長(zhǎng)期按鍵對(duì)周?chē)骷挠绊憽0存I壽命測(cè)試使用手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等產(chǎn)品,測(cè)試能力主要范圍是適用于檢測(cè)按鍵開(kāi)關(guān)、輕觸開(kāi)關(guān)、薄膜開(kāi)關(guān)等各類(lèi)按鍵進(jìn)行壽命測(cè)試。
1.測(cè)試目的:
制定規(guī)范的操作指引,提供試驗(yàn)人員進(jìn)行按鍵壽命試驗(yàn);
2.范測(cè)試圍:
適用于所有電話機(jī)成品(除客戶特殊要求外)以及物料。
3.參考文件:
WQA9151-- Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products. WQA9152-- Reliability Test Items for Vtech Europe Products.4
.定義:
無(wú)。
5.責(zé)任:
試驗(yàn)申請(qǐng)者提供試驗(yàn)功能正常的樣品,并填寫(xiě)試驗(yàn)申請(qǐng)單;
6.程序
沖頭的調(diào)校及安裝(按鍵壽命測(cè)試);做按鍵壽命試驗(yàn),VTECH標(biāo)準(zhǔn)要求如下:
7.試驗(yàn)要求
試驗(yàn)中和試驗(yàn)后按鍵功能正常;