電子產(chǎn)品振動(dòng)測(cè)試是模擬電子產(chǎn)品在運(yùn)輸、安裝及使用環(huán)境下所遭遇到的各種振動(dòng)環(huán)境影響，用來確定電子產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動(dòng)的能力。

試驗(yàn)內(nèi)容:電子產(chǎn)品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)，振動(dòng)的頻率范圍為：50HZ~500HZ,，分別在X\Y\Z軸上振動(dòng)測(cè)試，試驗(yàn)完畢后檢測(cè)外觀，結(jié)構(gòu)及各功能功能是否能夠正常使用。

振動(dòng)測(cè)試介紹：
振動(dòng)測(cè)試是仿真產(chǎn)品在運(yùn)(Transportation)、安裝(Installation)及使用(Use)環(huán)境中所遭遇到的各種振動(dòng)環(huán)境影響，用來確定產(chǎn)品是否能承受各種環(huán)境振動(dòng)的能力。振動(dòng)測(cè)試是評(píng)定元器件、零部件及整機(jī)在預(yù)期的運(yùn)輸及使用環(huán)境中的可靠性抵抗能力。
分類：正弦振動(dòng)、掃描振動(dòng)、定頻振動(dòng)、隨機(jī)振動(dòng)等。
正弦振動(dòng)技術(shù)指標(biāo)包括：頻率范圍、振幅、速度、加速度、振動(dòng)方向、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間。
一般低于交越頻率由振幅確定，大于交越頻率由加速度確定。
隨機(jī)振動(dòng)的試驗(yàn)參數(shù)：Grms均方根值、頻率(點(diǎn))、PSD功率譜密度、試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間、振動(dòng)方向。

隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)由以上4個(gè)參數(shù)共同確定，實(shí)際上通過頻率(點(diǎn))和PSD可以計(jì)算出Grms值。

振動(dòng)測(cè)試的振動(dòng)方式：
常見的振動(dòng)方式有正弦振動(dòng)以及隨機(jī)振動(dòng)，正弦振動(dòng)試驗(yàn)有定頻和掃描實(shí)驗(yàn)類型，掃描試驗(yàn)分線性掃描和對(duì)數(shù)掃描。正弦振動(dòng)頻率始終不變，一般是模擬轉(zhuǎn)速固定的旋轉(zhuǎn)機(jī)械引起的振動(dòng)，或結(jié)構(gòu)固有頻率處的振動(dòng)。掃頻正弦振動(dòng)，在試驗(yàn)中頻率將按一定的規(guī)律發(fā)生變化，而振動(dòng)量是頻率的函數(shù)。隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)則是以產(chǎn)品整體性能結(jié)構(gòu)耐震強(qiáng)度評(píng)估，以及在包裝狀態(tài)下的運(yùn)輸環(huán)境模擬。

振動(dòng)測(cè)試目的：評(píng)定產(chǎn)品在預(yù)期的使用環(huán)境中抗振能力而對(duì)受振動(dòng)的實(shí)物或模型進(jìn)行的測(cè)試。

振動(dòng)測(cè)試參考的標(biāo)準(zhǔn)：

ASTM，ISTA，MIL，EN，IEC，ETSI，JIS，SAE、JASO、IEC，ISO，AEC等。

電子產(chǎn)品要做振動(dòng)測(cè)試如今世界經(jīng)濟(jì)模式已走向全球性的經(jīng)濟(jì)貿(mào)易，無論是地域性市場(chǎng)，還是眼觀全球市場(chǎng)，品質(zhì)都是每個(gè)企業(yè)不可不重視的環(huán)節(jié)，而振動(dòng)測(cè)試成為了產(chǎn)品的品質(zhì)安全的重要檢測(cè)手段。電子產(chǎn)品產(chǎn)品從生產(chǎn)過早到到達(dá)客戶手中，這個(gè)過程中會(huì)遇到各種不同的振動(dòng)環(huán)境，而振動(dòng)測(cè)試的目的是在于試驗(yàn)中模擬一連串的振動(dòng)環(huán)境，從而檢驗(yàn)產(chǎn)品是否耐得住各種機(jī)械環(huán)境的破壞。因而發(fā)現(xiàn)問題，提升產(chǎn)品品質(zhì)安全。

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