LED的熱學特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)，LED可靠性測試，LED產(chǎn)品制造中的每一個元件和環(huán)節(jié)都會對其可靠性和壽命產(chǎn)生影響，例如，LED結(jié)和基板的虛焊、LED熒光粉的熱猝滅和退化、封裝材料的退化以及驅(qū)動器的失效等，最后退化的可能才是半導體(PN結(jié))本身。這些因素導致LED產(chǎn)品失效(退化)的方式也不盡相同。
為了觀察LED在長期連續(xù)使用情況下光性能的變化規(guī)律，需要對LED進行抽樣試驗，通過長期觀察和統(tǒng)計獲得LED壽命參數(shù)。對于LED環(huán)境特性的試驗往往采用模擬LED在應(yīng)用中遇到的各類自然侵襲，一般有：高低溫沖擊試驗、濕度迴圈試驗、潮濕試驗、鹽霧試驗、沙塵試驗、輻照試驗、振動和沖擊試驗、跌落試驗、離心加速度試驗等。一般測試低功率LED的可靠性具體項目有以下幾點：
1.焊錫耐熱性：260±5，5Sec,外觀和電氣特性無異常。
2.溫度迴圈試驗：85（30min)---轉(zhuǎn)換5min---—40（30min)為1cycle,需做50cycle,外觀和電氣特性無異常。
3.熱沖擊試驗：100（5min)---轉(zhuǎn)換10sec---—10（5min)1cycle,需做50cycle,外觀和電氣特性無異常。
4.高溫儲存試驗：在溫度100環(huán)境下放置1000Hrs,外觀和電氣特性無異常。
5.低溫儲存試驗：在溫度—40環(huán)境下放置1000Hrs,外觀和電氣特性無異常。
6.高溫高濕放置試驗：在溫度85/相對濕度85%RH環(huán)境下放置1000Hrs，外觀和電氣特性無異常。
7.引腳拉力試驗：依據(jù)引腳截面積的大小施加重力/30Sec,引腳須無拉脫及松動，電氣特性無異常。
8.引腳彎折試驗：依據(jù)引腳截面積的大小施加重力，彎折±90度（距本體3mm處）2回，引腳須無折斷及松動，電氣特性無異常。

9.壽命試驗：施加IF電流，連續(xù)工作1000Hrs,外觀和電氣特性無異常。

LED的熱學特性、環(huán)境耐候性、電磁兼容抗擾度等與壽命和可靠性密切相關(guān)，LED可靠性測試，LED產(chǎn)品制造中的每一個元件和環(huán)節(jié)都會對其可靠性和壽命產(chǎn)生影響，例如，LED結(jié)和基板的虛焊、LED熒光粉的熱猝滅和退化、封裝材料的退化以及驅(qū)動器的失效等，最后退化的可能才是半導體(PN結(jié))本身。這些因素導致LED產(chǎn)品失效(退化)的方式也不盡相同。
為了觀察LED在長期連續(xù)使用情況下光性能的變化規(guī)律，需要對LED進行抽樣試驗，通過長期觀察和統(tǒng)計獲得LED壽命參數(shù)。對于LED環(huán)境特性的試驗往往采用模擬LED在應(yīng)用中遇到的各類自然侵襲，一般有：高低溫沖擊試驗、濕度迴圈試驗、潮濕試驗、鹽霧試驗、沙塵試驗、輻照試驗、振動和沖擊試驗、跌落試驗、離心加速度試驗等。一般測試低功率LED的可靠性具體項目有以下幾點：
1.焊錫耐熱性：260±5，5Sec,外觀和電氣特性無異常。
2.溫度迴圈試驗：85（30min)---轉(zhuǎn)換5min---—40（30min)為1cycle,需做50cycle,外觀和電氣特性無異常。
3.熱沖擊試驗：100（5min)---轉(zhuǎn)換10sec---—10（5min)1cycle,需做50cycle,外觀和電氣特性無異常。
4.高溫儲存試驗：在溫度100環(huán)境下放置1000Hrs,外觀和電氣特性無異常。
5.低溫儲存試驗：在溫度—40環(huán)境下放置1000Hrs,外觀和電氣特性無異常。
6.高溫高濕放置試驗：在溫度85/相對濕度85%RH環(huán)境下放置1000Hrs，外觀和電氣特性無異常。
7.引腳拉力試驗：依據(jù)引腳截面積的大小施加重力/30Sec,引腳須無拉脫及松動，電氣特性無異常。
8.引腳彎折試驗：依據(jù)引腳截面積的大小施加重力，彎折±90度（距本體3mm處）2回，引腳須無折斷及松動，電氣特性無異常。
9.壽命試驗：施加IF電流，連續(xù)工作1000Hrs,外觀和電氣特性無異常。

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