一般情況下測定平均晶粒度有三種基本方法：比較法、面積法、截點法。

比較法：比較法不需計算晶粒、截矩。與標(biāo)準(zhǔn)系列評級圖進(jìn)行比較，用比較法評估晶粒度時一般存在一定的偏差(±0.5級)。評估值的重現(xiàn)性與再現(xiàn)性通常為±1級。

面積法：面積法是計算已知面積內(nèi)晶粒個數(shù)，利用單位面積晶粒數(shù)來確定晶粒度級別數(shù)。該方法的精確度中所計算晶粒度的函數(shù)，通過合理計數(shù)可實現(xiàn)±0.25級的精確度。面積法的測定結(jié)果是無偏差的，重現(xiàn)性小于±0. 5級。面積法的晶粒度關(guān)鍵在于晶粒界面明顯劃分晶粒的計數(shù)。