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低溫測試的目的是檢驗試件能否在長期的低溫環(huán)境中儲藏、操縱控制，是確定軍民用設備在低溫條件下儲存和工作的適應性及耐久性。低溫下材料物理化學性能。標準中對于試驗前處理、試驗初始檢測、樣品安裝、中間檢測、試驗后處理、升溫速度、溫度柜負載條件、被測物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求。

低溫條件下試件的失效模式：產品所使用零件、材料在低溫時可能發(fā)生龜裂、脆化、可動部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

1、使材料發(fā)硬變脆；
2、潤滑劑粘度增加，流動能力降低，潤滑作用減小；
3、電子元器件性能發(fā)生變化；
4、水冷凝結冰；
5、密封件失效；
6、材料收縮造成機械結構變化。

低溫測試主要用于科研研究、醫(yī)療用品的保存、生物制品、遠洋制品、電子元件、化工材料等特殊材料的低溫實驗及儲存。

GB/T2423.1-2008《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》
IEC 60068-2-1:2007《電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫》